KC901S增加了可以用TF或Micro SD卡存储测量参数的新功能。
经过试用,仪器对于每个测试项目都在存储卡上单独开一个目录进行分类存储,计有“AF_Source”、“RF_Source”、“Filed”、“SPEC”、“S21”、“S11_Phase”、“S11_Loss”、“S11_VSWR”、“S11_Smith”和“S11_Z”十个目录,这个安排可以方便查找所存储的数据。每个测试存储分别是一幅BMP格式的屏幕截图文件和一个同名的ini后缀的文件(S11_Smith是s1p 后缀),用目录名的后面加上存储时间值作为文件名。但是,仪器不能自定义文件名,所以要想方便找出所存入数据的文件,最好是在存储的时候记住存储时的时间值。
有了这个存储功能,以后就不用再拿个相机对着屏幕拍摄这么麻烦了,直接就可以截屏出图了!
在进行测试期间需要存储数据,只需按“SHIFT”键再按“1”键就自动进行存储,非常便捷。
需要读出时,在该测试功能上按“SHIFT”键再按“2”键,就能读出曾经存储的参数。按“2”键后屏幕出现一个文件菜单,最先(存储时间最久)存储的文件自动排序在最上面,而最后(时间最新)存储的文件则放在最下面一栏。扭动机顶旋钮或按“+”“-”键使光标上下选择文件,选定文件后按“载入”软键即可读入存储参数和图形曲线。
但是,经过测试,“AF_Source”、“RF_Source”和“Filed”三个功能虽然均能存储数据(用电脑看文件中截图和参数都正确有效),仪器却不能读出来(按“SHIFT”键再按“2”键没有反应)。
而在“S11_Smith”功能中读出不正确。在“S11_Smith”功能中按“阻抗/导纳”软键可以切换六种不同的测试显示状态,但是在某个状态下存储的参数在读出时却不会重现在该状态下,需要按“显示模式”跳出去选除“圆图”之外的任一种显示模式进去,然后按“显示模式”再退出来,又重新进入“圆图”显示模式中,这时候屏幕才会进入存储时的“阻抗/导纳”测量显示状态。这时,按“SHIFT”键再按“2”键读一次刚才的数据,整个显示才能重现存储时的状态了。
但是,如下图的这两项,却是跟存储的时候不一样。
刚开始试用时曾经试过几次在“S11_Smith”功能中不管选择的是哪个文件,读出的永远只是最后存储的那个文件。后来不知道怎么弄,又可以读出随机选择的文件了。
当屏幕上显示有“曲线保持”和“最大值保持”曲线的话,存储功能可以把这两条曲线存储进去。
而当屏幕上显示有这两条曲线时,读出的存储会叠加在这两条曲线上。
[ 此帖被BA7IA在2015-05-14 11:47重新编辑 ]