另外看了您的混合,每个发射机工作在单频状态,完全没有imd的问题。只要混合隔离器的隔离度指标保证,每个发射机的高次谐波限定在合格范围,所有测到的imd指标更多的瓶颈居然是在无源原件包括接插件的不同金属,镀层和接触面氧化等方面的imd由来。
一般好的测量级的接插件imd可以优于-120db,但是那种工业继电器尤其是大功率那种可克服热切换打火的继电器(银氧化镉)的imd指标非常差,类似穿入无数微半导体。一般小信号对imd要求稍高的一定使用镀金接点。目前的大功率继电器开始用银氧化锡接点,这个不太清楚情况,但是imd肯定不乐观,因为有氧化物存在。