看到一款淘宝上的nanoVNA-F,很不错,但试用发现如果频率扫描较宽(例如3-30MHz),测试VSWR有时会出现曲线谷点形状不对称、读数偏高甚至显示不出凹陷的现象,好像网上也有人谈过类似问题。建议制作者设法改进。主要原因可能是扫描点不够多,丢失了VSWR最低点的采样。建议增设一种可选的慢扫描工作状态,缩小扫描步距,当然代价是这一档的响应速度变慢。为不因保存过多的采样结果而增加变量所占内存,可以采用相邻扫描点叠加的办法,例如扫描步距缩小到1/10,取相邻10个采样点数据中的最大值和最小值作为一个显示数据,这样虽然扫描精度不会提高,但可更准确地提示所有的极大、极小值点,不会漏掉,以便更真实地在宽频率范围内反映VSWR变化趋势。
仅供开发者参考。
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